真的又來了一次，每次只要有新的大老板上任就會(huì)再重新檢討一次【測(cè)試是否可以拿掉？】議題，尤其是ICT(In-Circuit-Test，電路測(cè)試)這種需要花很多金錢購置設(shè)備與治具，又沒有生產(chǎn)價(jià)值（因?yàn)闇y(cè)試不會(huì)增加產(chǎn)出）的制程，一向是大老板們的眼中釘。

但現(xiàn)實(shí)環(huán)境下沒有經(jīng)過測(cè)試的產(chǎn)品你真的敢直接出貨賣給客戶嗎？這些大老板們總懂得強(qiáng)烈要求下屬去做，但自己卻不愿意拍板。

當(dāng)下屬的我們極力爭(zhēng)取又被否決后，最后的攤牌就請(qǐng)大老板自己挑選一個(gè)產(chǎn)品并親自下令拿掉所有測(cè)試來實(shí)際運(yùn)作看看結(jié)果如何，目的當(dāng)然是不希望所有的好處(節(jié)省出貨時(shí)間、降低生產(chǎn)成本)都被老板拿走，出問題(客戶抱怨產(chǎn)品品質(zhì)不良)后卻要下屬來扛責(zé)，只是到這個(gè)時(shí)候幾乎所有的大老板們都會(huì)收手。(你還不知道什么是ICT?)

 

可是也有一些不愿意就此放手的大老板，他們會(huì)繼續(xù)丟出一些問題，繼續(xù)折磨你，比如說問你：「既然ICT及FVT都是測(cè)試，那是不是可以把ICT拿掉，全部用FVT取代就可以了？」。

這樣又回到了老問題，在回答這個(gè)問題之前可能還是得再說明一下電路板組裝后的測(cè)試流程。參考左圖（已經(jīng)了解的朋友就跳過吧），一般傳統(tǒng)的電路板經(jīng)過SMT組裝后，通常會(huì)使用AOI(Auto Optical Inspection)先用光學(xué)來檢查零件偏移、短路、立碑、缺件…等問題，然后經(jīng)過ICT或MDA的電路測(cè)試，最后再經(jīng)過FVT(Functional Verification Tester)功能測(cè)試等三種方式來確認(rèn)電路板的功能正常。想對(duì)這三種電路板品質(zhì)測(cè)試做進(jìn)一步了解的朋友，可以參考這篇文章【電路板組裝后的幾種測(cè)試方法AOI/MDA/ICT/FVT/FCT探討】。

接著要了解ICT與FVT的測(cè)試差異?

下面深圳宏力捷試著列出ICT與FVT的測(cè)試差異，請(qǐng)注意這里比較的是ICT而不是MDA：

	ICT	FVT
是否需要上電開機(jī)測(cè)試	不需要為待測(cè)電路板上電就可以測(cè)試，可避免電路板燒毀的風(fēng)險(xiǎn)。之后欲執(zhí)行低階程試測(cè)試時(shí)再上電。	必須上電才可以測(cè)試，有可能因?yàn)榱慵搪吩斐呻娐钒鍩龤А?/td>
是否需要測(cè)試點(diǎn)	全部使用測(cè)試點(diǎn)來進(jìn)行測(cè)試，但是可以使用結(jié)點(diǎn)(Nets)來降低測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量。	僅需要部分測(cè)試點(diǎn)，或使用實(shí)插的方式連結(jié)IO設(shè)備(顯示器、網(wǎng)線或讀卡機(jī))
不良品除錯(cuò)容易度	只要有測(cè)試點(diǎn)，可以精確指出來哪個(gè)零件或哪個(gè)結(jié)點(diǎn)有問題，方便作業(yè)員修理不良板。	無法精確告知哪個(gè)零件有問題，只能憑經(jīng)驗(yàn)或是聘請(qǐng)專業(yè)的修復(fù)技工修理不良板。
旁路電路測(cè)試能力	只要有測(cè)試點(diǎn)，旁路電路也可以測(cè)試。	除非可以模擬特殊狀況，否則旁路電路難以測(cè)試確認(rèn)品質(zhì)。
Short/Open test for all of the nets.(針對(duì)結(jié)點(diǎn)或零件作開短路測(cè)試)	只要有測(cè)試點(diǎn)就可以針對(duì)所有的零件或結(jié)點(diǎn)作開短路測(cè)試測(cè)試。	只能透過上電開機(jī)來檢測(cè)產(chǎn)品功能。
Components for L, C,R,D,Tr(量測(cè)電感、電容、電阻、二極體、電晶體的特性值)	只要有測(cè)試點(diǎn)，可以量測(cè)到所有的被動(dòng)元件特性。	只能透過上電開機(jī)來檢測(cè)產(chǎn)品功能。如果有錯(cuò)件或是特性跑掉，不一定可以偵測(cè)出來。
主動(dòng)元件 (IC)的特性量測(cè)	可以使用測(cè)試點(diǎn)量測(cè)，或是利用JTAG或TestJet以減少測(cè)點(diǎn)。	透過上電開機(jī)來檢測(cè)產(chǎn)品功能。
Measuring Frequency, Voltage. (量測(cè)頻率及電壓)	可以。	可以。
Performing the Function test. (執(zhí)行功能測(cè)試)	可以執(zhí)行低階的功能自我測(cè)試，只能檢測(cè)大部份的功能，但無法如FVT實(shí)際查看螢?zāi)伙@示是否正常，IO的讀取是否確實(shí)，因?yàn)椴皇菍?shí)插測(cè)試	使用測(cè)試點(diǎn)或?qū)嵅蹇梢詫⑺械墓δ軠y(cè)試過一次，但只能測(cè)試正常情況下的功能。
測(cè)試時(shí)間	一般來說一片板子一分鐘內(nèi)可以測(cè)試完畢，甚至短到10秒鐘以內(nèi)。	一般來說一片板子可能得花上好幾分鐘才可以測(cè)試完成，因?yàn)橛胁糠萑藶椴僮鳠o法避免。
是否需要先下載測(cè)試程式	不需要下載測(cè)試程式就可以執(zhí)行開短路及被動(dòng)元件特性測(cè)試，如果要執(zhí)行低階程式測(cè)試則需事先安裝或下載。	需要事先下載作業(yè)系統(tǒng)及測(cè)試程式才可以開機(jī)測(cè)試。
是否支援OTG下載程式	可以下載作業(yè)系統(tǒng)或程式到電路版的記憶體中)	支援。

實(shí)際比較【ICT+Sampling FVT】及【純FVT】的測(cè)試時(shí)間與工時(shí)花費(fèi)

這里以同一片板子來比較【100% ICT+5%抽樣FVT】及【無ICT+100% FVT】的測(cè)試時(shí)間差異，這個(gè)數(shù)據(jù)各每家公司的結(jié)果及項(xiàng)目會(huì)各有不同，這里的數(shù)據(jù)僅提供參考。之所以采用【5%FVT抽樣】是因?yàn)楹竺孢€有整機(jī)測(cè)試可以cover。

比較的結(jié)果說明【無ICT+100% FVT】的測(cè)試時(shí)間總共花了310秒，而【100% ICT+5%抽樣FVT】只花了67秒。假設(shè)工廠每小時(shí)工時(shí)為美金10元，一個(gè)月有十萬片的產(chǎn)量，這樣每個(gè)月的工時(shí)花費(fèi)就差了US$67,500（=86100-18600）。

 

計(jì)算結(jié)果：使用ICT測(cè)試比單純使用FVT節(jié)省花費(fèi)

如果你還是看不懂上面的計(jì)算，下面我們用實(shí)際的金額花費(fèi)來讓你更進(jìn)一步了解使用ICT與否的工廠費(fèi)用差異。（請(qǐng)注意金額以美金表示，下面的計(jì)算一樣假設(shè)工廠每小時(shí)工時(shí)為美金10元，一個(gè)月有十萬片的產(chǎn)量）

	100%ICT+ 5%抽樣FVT	無ICT+ 100%FVT	金額差異
ICT或FVT的治具費(fèi)用	153,000	53,000
電路板測(cè)試每個(gè)月的花費(fèi)金額	18,600	86,100
第一個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	171,600	139,100	32,500
第二個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	190,200	225,200	-35,000
第三個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	208,800	311,300	-102,500
第四個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	227,400	397,400	-170,000
第五個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	246,000	483,500	-237,500
第六個(gè)月治具費(fèi)用+測(cè)試工時(shí)費(fèi)用	264,600	569,600	-305,000

上面的計(jì)算結(jié)果顯示，其實(shí)只有第一個(gè)月的時(shí)候【無ICT+100%FVT】的金額花費(fèi)比【100%ICT+5%抽樣FVT】來得少，到了第二個(gè)月以后就顛倒過來了，到的第六個(gè)月使用ICT的花費(fèi)金額甚至已經(jīng)比不使用ICT節(jié)省了 US$305,000。

所以用不用ICT你應(yīng)該已經(jīng)心知肚明，不過就如同之前說過的，ICT基本上還是較適合用在大量生產(chǎn)的機(jī)種，如果世比較少量或板子上沒有那么多IC等主動(dòng)零件，或許只要選用MDA就可以，如果是每個(gè)月生產(chǎn)不到1000片的板子，甚至可以考慮僅用AOI及FVT來測(cè)試。